檢測內容太陽能電池片表面檢測：
 • 缺陷種類：手印、大小角（尺寸不良）、深刮痕、崩邊、邊緣缺陷、孔洞和污染
 • 最大可檢測156mmx156mm wafer
 • 檢測精度：0.2mm
 • 像素精度55 um @ 工作距離350mm
 • 檢測速度：最大3600 片/小時
 • 硅片暗裂
 • 硅片表面SiN膜一致性檢測
 • 硅片共面度3D檢測

系統配置：
·線陣工業相機、高分辨率工業鏡頭、LED線光源、大功率光源控制器；
·工控機：> 3.0G CPU，2048M 內存，160G硬盤，19” LCD顯示器等；
·機機械結構部分（包括機臺，精密傳送帶、相機等固定及微調裝置等）和電控箱（運動控制單元、電機、傳感器等）；
·應用軟件包及運行許可證及WindowsXP 運行環境+SP2。

線陣太陽能硅片視覺檢測光源選型

本系統拍攝目標為太陽能電池板表面，要求體現被測物表面手印、大小角（尺寸不良）、深刮痕、崩邊、邊緣缺陷、孔洞和污染等，為更好地表現細節，建議采用波長較短的光源－藍色光源，并采用低角度方式照射，并由于線陣掃描的速度對光源的亮度有比較高的要求，可選配富愛其藍色高亮線陣LED光源，該光源專用于線陣項目，采用高亮LED及特殊光學設計，在均勻性、亮度及聚光性均有非常優異的表現。另外，充分地考慮了散熱方面的要求，配合專用光源控制器，該光源可保證連續點亮3萬個小時。由于太陽能硅片另一常見缺陷如暗裂，尺寸變形等，為提高輪廓的對比度效果，及體現暗裂等缺陷，則需在另一面采用穿透力比較強的紅外線光源作背光用。

另外，在面陣方式進行太陽能電池片檢測時，由于考慮到太陽能電池片屬于大面識表面反光物體，在光源選型時，通常選用回形背光源作正光，富愛其大功率大面積背光源具有高亮度，低發熱，高均勻性等特點．是面陣太陽能硅片檢測的首選光源，歡迎來電查詢